跳至主要內容

【日本專家】CMP後清洗技術與化學藥液應用實務 | 主題資料庫 | 三建產業資訊

主題資料庫詳細內容

IC製造

【日本專家】CMP後清洗技術與化學藥液應用實務

3 小時 25T00146
CMP 後清洗 Wafer清洗 半導體清洗 晶圓清洗 Marangoni乾燥 Zeta電位清洗 清洗藥液選擇 清洗刷 Roll brush CMP設備 清洗設備 AMAT 荏原 化學機械研磨 平坦化 晶圓乾燥 清洗缺陷控制

大綱內容

一、CMP所面臨的整體情況
二、CMP設備構成:AMAT、荏原的設備構成
三、CMP後清洗模組概述:AMAT、荏原的清洗模組
四、清洗需去除的物質與對應的去除方式
.顆粒(金屬污染、有機污染)
.物理清洗
.Zeta電位的排斥作用
.蝕刻、Lift-off 去除法
五、清洗的副作用
.腐蝕
.蝕刻
.有機異物產生
.水痕
.靜電破壞
六、清洗刷具:滾輪刷的特性
七、清洗所使用的藥液及其目的
.氫氟酸
.有機酸
.螯合劑
.界面活性劑
.pH調整劑
八、乾燥方式
.旋轉乾燥
.Marangoni乾燥
.IPA乾燥
九、各製程的清洗方式
.ILD
.STI
.W
.Cu
十、總結

加入會員,掌握最新開課資訊

主題資料庫為公開展示,需透過公開課程或企業內訓方可報名上課。立即註冊會員,搶先收到此主題開班通知與專屬優惠。

有興趣將此主題導入貴單位?

三建可為企業規劃專屬內訓課程,含客製化大綱、講師派遣與教材配套。

聯絡我們